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被动元器件需要做哪些可靠性测试?国际标准AEC-Q200 全面解读!
发布时间:2022-11-18
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被动元器件又称为无源器件,是指不影响信号基本特征,仅令讯号通过而未加以更改的电路元件。最常见的有电阻、电容、电感、陶振、晶振、变压器等。被动元件,区别于主动元件。而国内此前则称无源器件和有源器件。被动元件内部不需要电源驱动,其本身不消耗电能,只需输入信号就可以做出放大、震荡、计算等响应,无需外部激励单元。各种电子产品中含有被动元件,是电子电路产业的基石。下面【晨欣】小编就来分享一下被动元器件需要做的可靠性测试有哪些?一起往下看吧!


AEC-Q200测试是对元器件品质与可靠度的认可。近年来,车载设备不断增加,车用元件高可靠性要求愈发严苛,每一个零件都与汽车驾驶员和乘客安全息息相关,所以选择高品质的元器件至关重要。以下是AEC-Q200常见的测试项目。


一、板弯曲测试


测试类型:板弯曲测试


测试要求:无明显的外观缺陷。


参考标准:AEC-Q200-005 (Sample Size:30 PCS )


测试方法:


仪器由机械装置组成,可施加使用线路板弯曲至少Dx = 2mm的力或者是按使用者规格或Q200中的定义。施加外力的持续时间应为60+5秒,只需施加一次外力到线路板上。


二、端子強度测试


测试类型:端子強度测试


测试要求:无明显的外观缺陷。


参考标准:AEC-Q200-006


测试方法:施加一个17.7N(1.8kg)的力到测试器件的侧面,此外力的施加时间为60+1秒。


三、端子強度测试


测试类型:端子強度测试


测试要求:无明显的外观缺陷。


参考标准:MIL-STD-202 Method 211


测试方法:


只进行引脚器件的引脚牢固性测试。条件A(910克);C(1.13公 斤);E(1.45公斤-mm)。


端子強度试验视频参考:


推拉力测试机符合根据以上三种测试要求:


广泛用于与LED封装测试、IC半导体封装测试、TO封装测试、IGBT功率模块封装测试、光电子元器件封装测试、大尺寸PCB测试、MINI面板测试、大尺寸样品测试、汽车领域、航天航空领域、军工产品测试、研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。


四、高温储存试验


测试类型:高温储存试验


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:MIL-STD-202G Method 108


测试方法:温度: N℃ (N:依据产品规格设定)


在额定工作温度下放置器件1000 小时.例如:125℃的产品可以在 125℃下存储1000 小时,同样地也适用于105℃和85℃的产品不通电。试验结束后24±4 小时內进行测试。


五、温度循环试验


测试类型:温度循环试验


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:JESD22 Method JA-104


测试方法:温度: N℃ (N: 依据产品规格設定)


1000 个循环(-40℃到125℃)。注意:如果85℃或105℃的产 品,1000 个循环应在其温度等级下进行。试验结束后24±4 小时內 进行测试。每个温度的停留时间不超过30 分钟,转换时间不超过 1 分钟。


六、高温高湿试验


测试类型:高温高湿试验


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:MIL-STD-202G Method 103


测试方法:在温度85℃/湿度85%的条件下放置1000 小时,不通电.试验结束 后24±4 小时內进行测试。


七、工作寿命试验


测试类型:工作寿命试验


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:MIL-PRF-27


测试方法:1000 小时105℃,如果125℃或155℃的产品,应在其温度下进行, 试验结束后24±4 小时內进行测试。


八、机械冲击试验


测试类型:机械冲击试验


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:MIL-STD-202Method 213


测试方法:条件C: 半正弦波, 峰值加速度: 100g.s; 脉冲持续时间: 6ms; 使用半正弦波形最大速度变化12.3英尺/秒。


九、振动测试


测试类型:振动测试


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:MIL-STD-202 Method 204


测试方法:测试频率从10HZ 到2000HZ, 5g 的力20 分钟为一循环, XYZ 每个方向各12 循环。


十、焊锡耐热测试


测试类型:焊锡耐热测试


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:MIL-STD-202Method 210


测试方法:


1. 插件类:


样品不进行預热,在温度260℃的条件下浸入本體1.5mm的深度10秒(260+0/-5℃)。


2. 贴片类:


A:参照下图回流焊曲线过2次;


B:峰值温度为: 260+0/-5℃;


C:回流焊温度条件是根据我司设备制定的。


十一、可焊性测试


测试类型:可焊性测试


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:IPC J-STD-002D


测试方法:


1. 蒸汽老化8 小时 (93℃);


2. 于245℃±5℃的温度下焊锡5s


十二、耐溶剂试验


测试类型:耐溶剂试验


测试要求:无明显的外观缺陷。


参考标准:MIL-STD- 202 Method 215


注意:增加水洗清洗剂-OKEM清洗剂或其它相同的溶剂,不要使用禁止的溶剂。


十三、外观


测试类型:外观


测试要求:不需进行电气测试。


参考标准:MIL-STD-883 Method 2009


测试目的:检查器件结构,标识和工艺品质。


十四、尺寸


测试类型:尺寸


测试要求:不要求电气测试。


参考标准:JESD22 Method JB-100


测试目的:器件详细规格验证物理尺寸。


注意:使用者和供应商规格。


十五、电气特性测试


测试类型:电气特性测试


测试要求:


1. 无明显的外观缺陷。


2. ΔL/L≦10%


3. ΔDCR/DCR≦10%


参考标准:User Spec.


样品数量要求进行参数试验:总结列出室温 下及最低、最高工作温度下器件的最小值、最大值平均值和标准差。


以上就是关于被动元器件需要做哪些可靠性测试介绍了,本文参考依据标准AEC-Q200。希望对大家能有所帮助!对于推拉力机半导体、芯片、集成电路等,如果您有遇到不清楚的问题,欢迎随时联系晨欣,晨欣的技术团队将会为您免费解答疑惑!